Áp suất cao: tin tức, hình ảnh, video, bình luận mới nhất

iPhone đời mới gặp rủi ro pin phồng khi đi máy bay

Các báo cáo gần đây chỉ ra một số mẫu iPhone đời mới có thể gặp phải vấn đề nghiêm trọng liên quan đến pin.

Đặt báo Quảng cáo RSS Tòa soạn Chính sách bảo mật

Hotline

0906 645 777

Liên hệ quảng cáo

0908 780 404

Tổng biên tập: Nguyễn Ngọc Toàn

Phó tổng biên tập: Hải Thành

Phó tổng biên tập: Lâm Hiếu Dũng

Phó tổng biên tập: Trần Việt Hưng

Tổng thư ký tòa soạn: Đức Trung

Giấy phép xuất bản số 110/GP - BTTTT cấp ngày 24.3.2020 © 2003-2026 Bản quyền thuộc về Báo Thanh Niên. Cấm sao chép dưới mọi hình thức nếu không có sự chấp thuận bằng văn bản.

Chứng nhận tín nhiệm mạng