Theo Wired, dù tràn ngập thông tin trên các mặt báo về sự cố Galaxy Note 7, nhưng Samsung hiện vẫn chưa thông báo nguyên nhân gây ra những sự cố cháy nổ gần đây.
Điều này cũng dấy lên mối lo ngại về các quy trình kiểm nghiệm chất lượng sản phẩm hiện có, đặc biệt đối với pin điện thoại. Song song đó, một số chuyên gia cũng cho rằng sự cố này là tiền đề giúp cải thiện mức độ an toàn của pin trong tương lai.
Hiện nay, các nhà khoa học và kỹ sư đang tích cực nghiên cứu những công nghệ pin mới, tập trung vào hai yếu tố chủ đạo là tăng cường thời gian sử dụng và nâng cao khả năng an toàn cho pin. Việc triệu hồi Galaxy Note 7 có thể cung cấp cho các nhà nghiên cứu một số lượng lớn pin có khả năng bị lỗi để thử nghiệm.
Công nghệ pin ngày nay đã chuyển biến mạnh mẽ, có khả năng đóng gói năng lượng nhiều hơn trong cùng không gian. Pin hiện đại sử dụng các kỹ thuật sản xuất tiên tiến, tuy nhiên vẫn còn đó những sai sót đáng tiếc.
Trước đây, Sony cũng từng thực hiện điều tương tự vào năm 2006. Pin của Sony có sự hiện diện của các hạt kim loại nhỏ còn sót lại trong các tế bào pin ở quá trình sản xuất. Khi pin được sạc và xả hoặc đặt dưới áp lực cơ khí, các hạt này đã dẫn đến sự tăng kim loại lithium trong các điện cực gây ra hiện tượng đoản mạch, và sau đó đốt cháy chất điện phân gây cháy nổ nghiêm trọng.
Vấn đề của Samsung có thể cho phép chúng ta cải tiến công nghệ sản xuất trong tương lai và phát hiện sai sót. Bằng các phương pháp chẩn đoán mới, các nhà khoa học trên toàn thế giới có thể tìm ra các tế bào bị lỗi nằm trong pin. phát hiện các tế bào có vấn đề trước khi nguy hiểm xảy đến, sửa chữa các quá trình sản xuất cho phù hợp cũng như có những quy trìnhmới giúp kiểm định pin sau sản xuất.
Bình luận (0)