Thị trường bán dẫn đang phải đối mặt với những khó khăn thách thức về đo kiểm do mật độ chip ngày càng cao trong các ứng dụng trọng yếu như thiết bị y tế và hệ thống ô tô. Các phương pháp đo kiểm hiện tại thường không phát hiện được các khiếm khuyết về cấu trúc hàn nối dây dẫn, dẫn đến khả năng gây tốn kém do các hư hỏng tiềm tàng.
Keysight Technologies vừa giới thiệu giải pháp kiểm tra hàn nối dây dẫn Electrical Structural Test (EST) dành cho ngành sản xuất chất bán dẫn
Ảnh: Keysight
Ngoài ra, các phương pháp đo kiểm truyền thống thường sử dụng các kỹ thuật lấy mẫu không có khả năng xác định đầy đủ các khiếm khuyết về cấu trúc hàn nối dây dẫn.
EST xử lý các thách thức về đo kiểm này bằng cách sử dụng công nghệ cải thiện hiệu năng đo phi vector nano Vectorless Test Enhanced Performance (nVTEP) tiên tiến để tạo ra cấu trúc điện dung giữa liên kết dây dẫn và một tấm cảm biến. Phương pháp này giúp EST xác định các khuyết tật khó phát hiện như dây võng, cận đoản mạch và dây dẫn lạc để có thể đánh giá toàn diện về tính toàn vẹn của hàn nối dây dẫn.
Ngoài ra, giải pháp này cũng giúp xác định nhiều loại lỗi liên kết dây dẫn, bao gồm lỗi về điện và không liên quan đến điện, bằng cách phân tích những thay đổi trong mẫu hình ghép nối điện dung để đảm bảo chức năng và độ tin cậy của các linh kiện điện tử.
Carol Leh, Phó chủ tịch Trung tâm Năng lực xuất sắc của Nhóm Giải pháp công nghiệp điện tử, Keysight, cho biết: "Keysight luôn đi đầu trong việc đưa ra các giải pháp sáng tạo nhằm giải quyết những thách thức cấp bách nhất trong quy trình hàn nối dây dẫn. Giải pháp đo kiểm kết cấu điện giúp các nhà sản xuất chip nâng cao hiệu quả sản xuất bằng cách nhanh chóng xác định các lỗi hàn nối dây dẫn, đảm bảo chất lượng và độ tin cậy vượt trội trong khi sản xuất khối lượng lớn".
Bình luận (0)