Theo Techcrunch, CEO Samsung Mobile - ông DJ Koh đã bắt đầu cuộc họp báo tại Seoul, Hàn Quốc, với lời xin lỗi sâu sắc đến khách hàng và đối tác kinh doanh trước khi đưa ra lưu ý rằng 96% trong số 3 triệu Galaxy Note 7 bán ra thị trường đã được thu hồi.
Theo thử nghiệm của Samsung, nguyên nhân sự cố được xác định là do các tế bào pin. Điều này hoàn toàn trùng khớp với các báo cáo rò rỉ trong vài tuần qua. Theo ông Koh, ở lần thu hồi đầu tiên, nguyên nhân chính của vụ việc là độ võng trong các điện cực âm. Ở lần thứ hai, hiện tượng đoản mạch xảy ra trong quá trình hàn đã khiến đồng nóng chảy, gây ra sự cố.
Ông Koh đã đưa ra lời giải thích về phương pháp thử nghiệm nội bộ của công ty khi họ đã xây dựng một cơ sở thử nghiệm độc lập để cô lập các trường hợp gây ra vụ nổ, bao gồm kết nối không dây, khả năng quét mống mắt và kết nối USB-C. Không trường hợp nào trong danh sách này ảnh hưởng đến sự cố cháy nổ, nhưng ông Koh hứa hẹn rằng công ty sẽ thiết lập các biện pháp bảo vệ mới trong tương lai để smartphone của hãng an toàn hơn.
Samsung cho biết, họ đã tiến hành hơn 700 thử nghiệm nội bộ khác nhau. Một số thử nghiệm bên ngoài cũng đã được thêm vào, xuất phát từ nhóm tư vấn pin. Thậm chí, nhà sản xuất Hàn Quốc cũng đã nhờ ba công ty kiểm định độc lập gồm UL, Exponent và TUV Rheinland để xác định nguyên nhân cháy nổ, kết quả được đưa ra cũng tương tự như công bố của Samsung.
Với kết luận cuối cùng này, Samsung cho biết trong thời gian tới sẽ chấn chỉnh lại khâu sản xuất pin và lấy lại niềm tin từ phía người dùng.
Được biết, hiện Samsung cũng đang gấp rút hoàn thiện mẫu smartphone Galaxy S8, dự kiến sẽ ra mắt vào tháng 4 tới.
Bình luận (0)