Theo New York Post, nhà khoa học dữ liệu George Hayward và là cựu nhân viên của Facebook cho biết phương pháp này được gọi là "thử nghiệm tiêu cực", cho phép hãng lén lút làm kiệt pin của thiết bị di động người dùng dưới danh nghĩa thử nghiệm các tính năng, vấn đề như tốc độ chạy ứng dụng hoặc cách tải hình ảnh.
Hayward đã nói với người quản lý việc này có thể gây hại cho người dùng. Đáp lại, người quản lý cho biết bằng cách hại một số ít người dùng, việc này sẽ có thể giúp đỡ nhiều người hơn. Nhà khoa học dữ liệu 33 tuổi này đã đâm đơn kiện lên Tòa án Liên bang Manhattan, cho biết anh ta đã bị sa thải vào tháng 11 qua vì từ chối tham gia thử nghiệm.
George Hayward đã làm việc trên ứng dụng Messenger của Facebook
Chụp màn hình
Anh cho biết mình phụ trách làm việc trên Messenger, ứng dụng cho phép gửi tin nhắn bằng văn bản, gọi điện và video, đây là một công cụ giao tiếp quan trọng ở nhiều quốc gia. Theo Báo cáo tổng quan toàn cầu về kỹ thuật số năm 2021, Messenger có 1,3 tỉ người dùng toàn cầu, đứng thứ 4 trong danh sách các ứng dụng truyền thông xã hội được dùng nhiều nhất
Trong đơn kiện Meta, Hayward cho biết việc làm hỏng pin điện thoại di động có thể khiến người dùng gặp rủi ro, đặc biệt là trong những trường hợp cần liên lạc với cảnh sát hoặc nhân viên cứu hộ. Anh làm việc tại Facebook từ tháng 10.2019 với hợp đồng có mức lương cao.
Hayward nói không biết có bao nhiêu người đã bị ảnh hưởng bởi thử nghiệm tiêu cực của Facebook, nhưng tin rằng công ty đã thực hiện hoạt động này vì anh được cung cấp một tài liệu đào tạo nội bộ có tiêu đề "Cách chạy các thử nghiệm tiêu cực chu đáo" và nói chưa từng thấy tài liệu nào kinh khủng hơn trong sự nghiệp.
Bình luận (0)