Theo PhoneArena, báo cáo của Instrumental cho thấy chính thiết kế pin của Samsung có thể là thủ phạm đứng đằng sau nhiều vụ nổ trên Galaxy Note 7, buộc công ty phải quyết định khai tử sản phẩm.
Cụ thể, các tế bào pin có chứa một cặp lớp polymer thấm đẫm chất điện được dùng để tách lớp cực dương bằng lithium cobalt oxide (LiCoO2) và lớp cực âm bằng than chì. Nếu để hai lớp điện cực dương và âm tiếp xúc nhau, chất điện phân sẽ nóng lên gây ra một vụ nổ.
Báo cáo cũng chỉ ra rằng, việc pin Galaxy Note 7 có thiết kế mỏng manh đã khiến lớp cực dương và cực âm siết chặt lại với nhau. Kết hợp với điều kiện sử dụng thông thường tạo sức ép vào pin Galaxy Note 7, như đặt điện thoại ở túi sau và ngồi lên ghế, sẽ gây sự cố phát nổ.
Tuy nhiên, Samsung đã bỏ qua nguyên tắc này chỉ để phục vụ mục tiêu tạo thiết kế Galaxy Note 7 mỏng nhất có thể. Để phục vụ mục tiêu của mình, nhà sản xuất Hàn Quốc đã tạo ra một thiết kế pin khá mỏng nhưng lại chứa rất nhiều năng lượng.
Đáng lý ra Samsung sẽ phải mất nhiều thời gian, có thể lên đến cả 1 năm, để thực hiện hàng nghìn khâu kiểm tra nghiêm ngặt khác nhau cho thiết kế pin mới thì công ty lại rút ngắn thời gian dựa vào phòng thí nghiệm pin có sẵn của mình.
Pin trên Galaxy Note 7 rất mỏng dẫn đến sự thiếu an toàn
|
Hậu quả của việc này chính là công ty mất đến khoảng 5 tỉ USD trong báo cáo doanh thu, đó là chưa kể các chi phí khác bị tổn thất liên quan đến việc thu hồi Galaxy Note 7.
Thiết kế đối xứng ấn tượng, nhưng đó lại là sai lầm nghiêm trọng?
|
Bình luận (0)